577.1 А 64         Анализ следов элементов / Матер. симп. по анализу следов (ноябрь 1955 г. ; Нью-Йорк) ; пер. с англ.: Е. К. Гольбрайх, А. М. Демкина, М. М. Кахана ; под ред.: Дж. Йо, Г. Коха, Д. И. Рябчикова. - М. : Иностранная литература, 1961. - 624 с. : ил. - Пер. вид. : Trace analysis. - New York; London, 1955. - Б. ц. УДК 577.1 Дод.точки доступу: Гольбрайх, Е.К. \пер. с англ.\; Демкина, А.М. \пер. с англ.\; Кахана, М.М. \пер. с англ.\; Йо, Дж. \под ред.\; Коха, Г. \под ред.\; Рябчикова, Д.И. \под ред.\ Примірників всього: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1)